
Семинар
Базовый уровень
Гнатология. Физиологические осноВы протезирования зубов и имплантатов. Диагностика и планирование в ортопедической стоматологии
18 000 ₽
на сумму 0 ₽
Подарки от партнеров
Адрес проведения
Дата проведения (местное время)
25.11.2025, 10:00‑18:00
Лекторы
План курса
Гнатология
Лектор расскажет об: функциональной окклюзии и биомеханике зубо-челюстной системы, что является ключевым для успешного протезирования.
8 часов
Физиологические осноВы протезирования зубов и имплантатов
Как правильно определить необходимый объем ортопедического лечения и предотвращать поломки ортопедических конструкций, пародонтальные проблемы, окклюзионно-мышечные боли и осложнения со стороны ВНЧС, которые могут возникнуть после протезирования.
8 часов
Диагностика и планирование в ортопедической стоматологии
Лектор поделится современными методами моделирования и изготовления ортопедических конструкций, которые минимизируют риск поломок и дисфункций ВНЧС
8 часов
Питание
Сертификат
Баллы для аккредитации
Семинар
Базовый уровень
Гнатология. Физиологические осноВы протезирования зубов и имплантатов. Диагностика и планирование в ортопедической стоматологии
18 000 ₽
на сумму 0 ₽
Отзывы
Гореликов Сергей Николаевич
03.11.2025, 06:42
Михаил «заразил» своим позитивом. Однодневный курс для меня был полезным. Делаю первые шаги в ортопедии, не жалею, что познакомился с Михаилом. Планирую к нему на другие курсы - имплантам, винирам. Спасибо, Михаил!
Клечан Михаил Анатольевич - Препарирование под коронки и получение точных оттисков
Захарова Ксения Евгеньевна
30.11.2024, 07:23
Благодарю за Михаила Анатольевича за курс, насыщенный теорией и практикой! Участники мероприятия были обеспечены всеми необходимыми инструментами, уделялось внимание каждому вопросу обучающихся.
Клечан Михаил Анатольевич - Препарирование под коронки и получение точных оттисков
Марусевич Артавазд Владимирович
30.10.2024, 15:04
Все отлично ,доступно,внятно было расказанно,спасибо организаторам.
Клечан Михаил Анатольевич - Препарирование под коронки и получение точных оттисков

